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  • 薄膜測(cè)厚儀
    薄膜測(cè)厚儀

    更新時(shí)間：2024-06-04

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    薄膜測(cè)厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測(cè)量，具有非接觸、無(wú)破壞、快速等特點(diǎn)，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺(tái)配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測(cè)量。
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